استخراج با فاز جامد مقادیر فوق العاده جزیی یونهای نقره و سریم بوسیله دیسکهای غشایی اکتا دسیل سیلیکای اصلاح شده

آنالیز یونهای نقره در غلظت پایین در حضور کاتیونهای دیگر با غلظت بالا تکنیکی بسیار حساس لازم دارد. در این کار یک روش ساده و کارا برای استخراج سریم و اندازه گیری مقادیر فوق العاده جزئی یونهای نقره به وسیله دیسکهای غشایی اکتا دسیل سیلیکای اصلاح شده با تترا متیل تترا تیافولوالن ‏‎(tmttf)‎‏ و طیف سنجی جذب اتمی شعله ای شرح داده می شود. راندمان استخراج و اثر سرعت جریان ، مقدار لیگاند و حجم و غلظت و نوع حال شوینده کمپلکس نقره از دیسک و اثر کاتیونهای مزاحم بر روی درصد بازیابی نقره مطالعه شده اند. سریم و دیگر عناصر خاکهای نادر بطور گسترده ای در فرآورده های صنعتی مثل ابزار فلورسنت ، مواد مغناطیس و آلیاژها و همچنین در کاتالیز کراکینگ - گازولین ، ترکیبات پولیش ، قوسهای کربن و .... استفاده می شوند. تعیین مقادیر جزیی یونهای سریم در سیستم های آبی به علت اثراتی چون خواص سمی آن افزایش یافته است. بنابراین جداسازی و تعیین مقادیر ناچیز سریم ازنمونه های مختلف بسیار با اهمیت می باشد.کار حاضر اولین کاربرد دیسکهای ‏‎spe‎‏ اصلاح شده برای جداسازی ، تغلیظ و اندازه گیری انتخابی مقادیر فوق العاده جزیی سریم می باشد که با استفاده از دیسکهای غشایی اکتا دسیل سیلیکای اصلاح شده با 1 ، 3 ، 5 - تری تیا سیکلو هگزان ‏‎(ttch)‎‏ و اسپکتروفتومتری با آرسنازو ‏‎(iii)‎‏ انجام شده است . راندمان استخراج و اثر ماتریکس نمونه ، ‏‎ph‎‏ محلول نمونه ، انواع و حداقل مقدار اسید بازیابی کننده و سرعت جریان بررسی شده اند. ماکزیمم ظرفیت دیسک غشایی اصلاح شده با ‏‎15mg‎‏ از ‏‎ttch‎‏ ، ‏‎547mg‎‏ می باشد. حد تشخیص روش پیشنهادی ‏‎2ng/ml‎‏ است . اثر کاتیونهای مختلف بر روی بازیابی سریم مطالعه شده است. و هیچ مزاحمت جدی مشاهده نگردیده است. روش برای بازیابی سریم از نمونه های سنتزی بکار برده شده است.